超聲掃描顯微鏡是屬于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備，我們常見的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備掃描方式有A掃、B掃、C掃三種，它們分別代表什么掃描方式，今天我們簡(jiǎn)單概述下，A掃描來源于英文單詞Amplitude，即幅值的意思，也即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。

基于A掃的缺陷判定方式，當(dāng)在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會(huì)發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測(cè)材料中的深度。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質(zhì)。

B掃描來源于英文單詞birightness，亮度的意思，掃描圖像以二維圖像顯示，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測(cè)量表面垂直的剖面。其亮度信息，則是通過計(jì)算反射回來的超聲波的強(qiáng)弱來確定。

C掃描來源于英文Constant depth，意思是恒定的深度，是對(duì)某一深度的截面進(jìn)行掃描，是二維平面內(nèi)移動(dòng)并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號(hào)成像，顯示的是水平截面的缺陷信息。

A掃描、B掃描、C掃描總結(jié)概述：

1、A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會(huì)發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測(cè)材料中的深度。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質(zhì)。

2、B掃描方式在掃描圖像以二維圖像顯示，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測(cè)量表面垂直的剖面。

3、C掃描就是三維成像掃描，掃描結(jié)果為工件的橫斷面。